●七種機型且*高可升級到 120MHz

1J6505B   頻率范圍 20Hz ~ 5MHz

1J6510B   頻率范圍 20Hz ~ 10MHz

1J6515B   頻率范圍 20Hz ~ 15MHz

1J6520B   頻率范圍 20Hz ~ 20MHz

1J6530B   頻率范圍 20Hz ~ 30MHz

1J6550B   頻率范圍 20Hz ~ 50MHz

1J65120B    頻率范圍 20Hz ~ 120MHz

●產(chǎn)品特色

1.0.05%基本精度，頻率分辨率≤1mHz

2.＜30 ms超高速測試速度，可結合測包機及分選機使用

3.簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手

4.高頻四線式技術，可測量極低的Rs及高Q值

5.20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級 ，可以升級到120MHz

6.提供各種測試解決方案：

     材料及電子零件測試分析、薄膜介電常數(shù)、磁導率、人體阻抗及NFC磁片等

     半導體CV測量、Power Mosfet、EMI、NFC、無線充電、磁珠及壓電片等

7.可內(nèi)建0-100mA， 0~+40V直流偏置或-40V~+40V直流偏置，外加可至80A DC Bias，*高帶寬支持120MHz

8.具有等效電路仿真、機算與分析功能

9.零件EMI的Z值測試

10.可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

11.直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

12.可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)

13.內(nèi)建同頻率LCR Meter

●測試參數(shù)

電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導納(Y), 相位角(θ )、介電常數(shù)（ε′??相對介電常數(shù)實部、ε′′r相對介電常數(shù)虛部、Dε相對介電損耗）、磁導率（μ′??相對磁導率實部、μ′′r 相對磁導率虛部、Dμ相對磁導率損耗）

●高精度量測

電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數(shù)D精度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q**度為±0.05%。

●元件圖形掃描

曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。

單測某一頻率時可以從曲線掃描轉換成標準LCR表讀值模式。

●可變的輸出和偏壓源

交流輸出可選高達1V或20mA，實現(xiàn)在真實操作環(huán)境中來評估元件。可選內(nèi)置可變偏壓直流源可提供達100mA的電流或-40V~+40V偏置電壓.外置*大可達80A 120MHz。